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北京新兴日祥科技发展有限公司北京分公司(fulanken1818.b2b168.com)主营:工业内窥镜IPLEX NX、涡流探伤仪NORTEC 600、相控阵探伤仪、探伤仪、超声波测厚仪38DL PLUS、超声波探伤仪OmniScan X3。全国咨询热线:*4。北京新兴日祥科技发展有限公司北京分公司秉持“质量为本,服务至上”的理念,产品**国内外。免费咨询!

    河南Magna-Mike 8600霍尔效应测厚仪批发价格 货源充足
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    更新时间:2024-11-12   浏览数:98
    所属行业:仪器仪表 无损检测仪器 超声检测仪
    发货地址:北京市石景山区  
    产品数量:9999.00个
    价格:¥2.00 元/个 起
    测厚范围:1.0mm~299mm(钢) 声速区间:1000m/s~9000m/s 显示精度:0.1mm 显示屏幕:对比度高的字段式液晶显示,高亮度LED背光 示值精度:±(0.5%H+0.1)mm,H为被测物实际厚度 测厚模式:单点测厚与扫描测厚 每秒测量次数:单点模式时4次/s、扫描模式时8次/s 储存数据:可存储20组(每组多100个测量值)厚度测量数据 显示单位:in\mm 供电电源:DC 3V (2节5号电池) 可工作时间:>90小时(不开背光时) 整机尺寸:148mm(长)*74.0mm(宽)*30mm(高) 整机重量:183g 储存大小:可存储20组(每组100个测量值)厚度测量数据
    在恶劣环境中操作的性能
    袖珍型,仅重0.814公斤
    坚固耐用,设计符合IP67标准
    爆炸性气氛:可在国家防火协会规范(NFPA 70)500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作,并且通过了标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
    防撞击测试:通过了标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试,每轴6个循环,15 g,11 msec半弦波。
    振动测试:通过了标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。
    宽泛的操作温度范围
    带有支架的橡胶保护套
    彩色透反VGA显示,带有室内和室外颜色设置,具有非常好的清晰度
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    超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头,产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收,通过单片机计数处理后,经液晶显示器显示厚度数值,它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。
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    38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能,以及许多于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁,且符合人体工程学的要求,操作人员使用单手(左手或右手)操控键区,就可以轻松访问仪器的所有功能。
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    超声测厚仪可选功能
    只需几次按键,即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项,从而跻身于工业领域中用途十分广泛的测厚仪行列。
    回波到回波/穿透涂层:使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,*去掉材料表面的漆层或涂层。
    单晶:这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
    单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
    数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
    带有波形调整功能的实时A扫描:用户使用这个可选实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中限度地增强测量性能。这个为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、1个回波空白、范围及延迟参数。
    北京新兴日祥科技发展有限公司从事销售OLYMPUS工业内窥镜、无损检测设备以及轨道交通设备。公司具备开发、定制各类工业扫查器及自动化检测系统的能力。
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