检测报告丨焊接件实验检测
2022-12-29 浏览次数:148次
主机:Omni scan X3 32:128 相控阵探伤仪
探头:10MHz,V311 探头;10MHz,64 晶片;NW1 探头。
耦合剂:为洁净水,无气泡、无灰尘、无杂质,水温大约控制在 20℃-35℃。
3.1 使用 Omni scan X3 32:128+10MHz,V311 探头;采用水浸扫查形式,将工
件下方垫起的检测结果如下:
3.2 使用 Omni scan X3 32:128+10MHz,V311 探头;采用水浸扫查形式,将工
件置于水槽底部的检测结果如下:
3.3 使用 Omni scan X3 32:128+10L64NW1 探头,激发 16 晶片;采用水浸扫查形式,将工件置于水槽底部的检测结果如下:
经多次反复对比实验,得出结论:
使用超声相控阵技术,采用 10MHz,V311 探头及 10MHz,64 晶片,NW1 探头;将工件置于不同状态下,根据回波强度来判断,图象中颜色越深,对应回波强度越大,能量越大,缺陷可能越大;其中发现在任何状态下均发现在圆盘内盘一侧位置与下方钨钼连接位置均发现缺陷信号,如以上图片红圈位置。
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